選擇接地電阻測(cè)試儀需要考慮的幾個(gè)問(wèn)題：
 

　　測(cè)試場(chǎng)地是否具有較高的土壤電阻率和/或需要較長(zhǎng)的測(cè)試引線？
 

　　將要測(cè)試的區(qū)域的土壤電阻率是否很高，或者輔助桿執(zhí)行電位下降測(cè)試所需的距離是否異常長(zhǎng)。如果這些問(wèn)題中的一個(gè)或兩個(gè)的答案都是肯定的，并且您打算執(zhí)行電位下降和/或土壤電阻率測(cè)試，則必須考慮儀器的注入電流和測(cè)試電壓。典型的注入電流范圍從幾毫安到幾百毫安。
 

　　高土壤電阻率通常對(duì)輔助電極產(chǎn)生高接觸電阻。當(dāng)使用通常提供10mA測(cè)試電流的低成本接地電阻測(cè)試儀時(shí)，這可能會(huì)引起關(guān)注; 因此，在這種情況下，我們建議使用能夠提供更高測(cè)試電流的接地電阻測(cè)試儀。在我們離開輔助電極的話題之前，請(qǐng)注意，夾式接地電阻測(cè)試儀不需要任何輔助桿或引線。另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是您無(wú)需使用接地系統(tǒng)來(lái)執(zhí)行測(cè)試。
 

　　是否存在電磁干擾(EMI)？
 

　　另一個(gè)需要考慮的問(wèn)題是測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)是否存在電磁干擾或EMI。EMI會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不穩(wěn)定或不準(zhǔn)確，特別是在較低的測(cè)試頻率下。常見的測(cè)試頻率是128Hz。具有自動(dòng)測(cè)試頻率選擇功能的接地電阻測(cè)試儀可以找到"干凈"的可用頻率，這在高EMI環(huán)境中具有優(yōu)勢(shì)。
 

　　鉗式接地電阻測(cè)試儀在這些位置也可以有效，因?yàn)樗鼈兺ǔＴ谳^高頻率下進(jìn)行測(cè)試。較新的AEMC鉗式模型還提供測(cè)試頻率選擇。請(qǐng)注意，在某些高感應(yīng)環(huán)境中，較低的測(cè)試頻率可以產(chǎn)生更可靠的結(jié)果。
 

　　如何使用測(cè)量數(shù)據(jù)？
 

　　接地電阻測(cè)試儀的選擇還取決于您打算如何使用獲得的數(shù)據(jù)。例如，如果您計(jì)劃保存，分析和分發(fā)測(cè)試結(jié)果，則數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和報(bào)告生成將成為重要的考慮因素。更新，更智能的接地電阻測(cè)試儀，包括3極和4極測(cè)試儀和鉗式模型，可以將測(cè)試結(jié)果存儲(chǔ)在內(nèi)部存儲(chǔ)器中。然后，可以使用計(jì)算機(jī)上運(yùn)行的軟件或智能手機(jī)和平板電腦的移動(dòng)應(yīng)用程序下載和分析此數(shù)據(jù)。
 

　　是否需要測(cè)試接地系統(tǒng)組件的連接？
 

　　如果計(jì)劃測(cè)試由包括地墊或網(wǎng)格在內(nèi)的許多組件組成的復(fù)雜接地系統(tǒng)，則需要測(cè)試各種元件之間的連接的連續(xù)性。該測(cè)試通常使用DC電壓和電流進(jìn)行。多個(gè)接地電阻測(cè)試儀提供此功能，測(cè)試電流高達(dá)幾百毫安。此外，可以使用微歐姆表進(jìn)行更完整的測(cè)試。使用該數(shù)字接地電阻測(cè)試儀的優(yōu)勢(shì)在于能夠在高達(dá)200A的高測(cè)試電流下進(jìn)行測(cè)試。這可以揭示在使用毫安范圍電流進(jìn)行測(cè)試時(shí)并不總是顯露出的問(wèn)題區(qū)域。